Name: SN74BCT8374ADWRG4
Brand: Texas Instruments
SKU: SN74BCT8374ADWRG4
Availability: InStock
Rating: 5 (191 reviews)

SN74BCT8374ADWRG4

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Numero di parte	SN74BCT8374ADWRG4
Produttore	Texas Instruments
Descrizione	IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Scheda dati
pacchetto	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
ECAD
A magazzino	3.840 piece(s)
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Specifiche SN74BCT8374ADWRG4

Produttore	Texas Instruments
Categoria	Circuiti integrati (CI) - Logici - Logica speciale
pacchetto	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
ECAD
Serie	74BCT
Tipo di logica	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensione di alimentazione	4.5 V ~ 5.5 V
Numero di bit	8
temperatura di esercizio	0°C ~ 70°C
Tipo di montaggio	Surface Mount
Pacchetto / caso	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore	24-SOIC

SN74BCT8374ADWRG4 Packaging

SN74BCT8374ADWRG4 FAQ

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2. How does Heisener guarantee that SN74BCT8374ADWRG4 is from the original manufacturer or authorized agents?

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3. Are the SN74BCT8374ADWRG4 price and inventory displayed accurate?

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6. What is the process for return or replacement of SN74BCT8374ADWRG4?

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(1)Such as a deficiency in quantity, delivery of wrong items, and apparent external defects (breakage and rust, etc.), and we acknowledge such problems.

(2)We are informed of the defect described above within 90 days after the delivery of SN74BCT8374ADWRG4.

(3)The PartNo is unused and only in the original unpacked packaging.

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(1)Inform us within 90 days

(2)Obtain Requesting Return Authorizations
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SN74BCT8374ADWRG4 garanzie

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SN74BCT8374ADW

D# V36:1790_07335374

Texas Instruments

Scan Test Device

RoHS: Compliant

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SN74BCT8374ADW

Texas Instruments

Numero di parte

Produttore

Descrizione

Azione

SN74BCT8374ADWRG4

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

SN74BCT8374ADW

Texas Instruments

SCAN TEST DEVICE, D-FLIP FLOP SOIC24, Flip-Flop Type:D, Propagation Delay:6.7ns, Supply Voltage Min:4.5V, Supply Voltage Max:5.5V, Logic Case Style:SOIC, No. of Pins:24, Frequency:70MHz, Output Current:64mA, Packaging:Each , RoHS Compliant: Yes

Numero di parte

Produttore

Descrizione

Azione

SN74BCT8374ADWRG4

D# SN74BCT8374ADWRG4-ND

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

SN74BCT8374ADW

D# 296-33849-5-ND

Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

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OEM/CM QUOTES ONLY | NO BROKERS

3154

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OEM/CM ONLY

862

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D# 595-SN74BCT8374ADW

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Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop

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104

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SN74BCT8374ADWRG4

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SN74BCT8374ADW

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996

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