Name: 8V182512IDGGREP
Brand: Texas Instruments
SKU: 8V182512IDGGREP
Price: 12.0725 USD
Availability: InStock
Rating: 5 (165 reviews)

8V182512IDGGREP

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Numero di parte	8V182512IDGGREP
Produttore	Texas Instruments
Descrizione	IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Scheda dati
pacchetto	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
ECAD
A magazzino	6.160 piece(s)
Prezzo unitario	$ 12,0725 *
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Specifiche 8V182512IDGGREP

Produttore	Texas Instruments
Categoria	Circuiti integrati (CI) - Logici - Logica speciale
pacchetto	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
ECAD
Serie	-
Tipo di logica	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tensione di alimentazione	2.7 V ~ 3.6 V
Numero di bit	18
temperatura di esercizio	-40°C ~ 85°C
Tipo di montaggio	Surface Mount
Pacchetto / caso	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore	64-TSSOP

8V182512IDGGREP Packaging

8V182512IDGGREP FAQ

1. How to order 8V182512IDGGREP on Heisener?

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2. How does Heisener guarantee that 8V182512IDGGREP is from the original manufacturer or authorized agents?

We have a professional and experienced quality control team to strictly verify and test the 8V182512IDGGREP. All suppliers must pass our qualification reviews before they can publish their products including 8V182512IDGGREP on Heisener; we pay more attention to the channels and quality of 8V182512IDGGREP products than any other customer. We strictly implement supplier audits, so you can purchase with confidence.
3. Are the 8V182512IDGGREP price and inventory displayed accurate?

The price and inventory of 8V182512IDGGREP fluctuates frequently and cannot be updated in time, it will be updated periodically within 24 hours. And, our quotation usually expires after 5 days.
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6. What is the process for return or replacement of 8V182512IDGGREP?

All goods will implement Pre-Shipment Inspection (PSI), selected at random from all batches of your order to do a systematic inspection before arranging the shipment. If there is something wrong with the 8V182512IDGGREP we delivered, we will accept the replacement or return of the 8V182512IDGGREP only when all of the below conditions are fulfilled:

(1)Such as a deficiency in quantity, delivery of wrong items, and apparent external defects (breakage and rust, etc.), and we acknowledge such problems.

(2)We are informed of the defect described above within 90 days after the delivery of 8V182512IDGGREP.

(3)The PartNo is unused and only in the original unpacked packaging.

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(1)Inform us within 90 days

(2)Obtain Requesting Return Authorizations
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Numero di parte

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Descrizione

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8V182512IDGGREP

D# V36:1790_07222207

Texas Instruments

Scan Test Device

RoHS: Compliant

Numero di parte

Produttore

Descrizione

Azione

8V182512IDGGREP

Texas Instruments

IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

1941

Numero di parte

Produttore

Descrizione

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8V182512IDGGREP

D# 296-22075-2-ND

Texas Instruments

IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP

Numero di parte

Produttore

Descrizione

Azione

8V182512IDGGREP

Texas Instruments

OEM/CM ONLY

172

Numero di parte

Produttore

Descrizione

Azione

8V182512IDGGREP

D# NS-8V182512IDGGREP

Texas Instruments

OEM/CM ONLY

3995

Numero di parte

Produttore

Descrizione

Azione

8V182512IDGGREP

Texas Instruments

Enhanced Product 3.3-V Abt Scan Test Devices With 18-Bit Universal Bus Transceivers

Numero di parte

Produttore

Descrizione

Azione

8V182512IDGGREP

Texas Instruments

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1189

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